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首頁>>北京英格海德分析技術(shù)有限公司>>產(chǎn)品展示>>等離子體-材料表面

  • 濺射中性粒子質(zhì)譜儀 參考價：面議

    MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰高品質、陽離子動態(tài)和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應(yīng)用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣...
    型號： MAXIM 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：北京市 對比
    氣體分析質(zhì)譜儀中性粒子質(zhì)譜儀廠家供應(yīng)中性粒子質(zhì)譜儀
    2021/12/30 18:14:07631

  • 二次離子質(zhì)譜儀 參考價：面議

    二次離子質(zhì)譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描結構，自動測量正共創美好、負(fù)和中性粒子精準調控。
    型號： SIMS Work... 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：北京市 對比
    氣體分析質(zhì)譜儀二次離子質(zhì)譜儀廠家供應(yīng)二次離子質(zhì)譜儀
    2021/12/30 18:13:09605

  • 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 參考價：面議

    Hiden TOF-qSIMS 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀工作站設(shè)計用于多種材料的表面分析和深度剖析應(yīng)用技術交流，包括聚合物便利性，藥物結構重塑，超導(dǎo)體聽得懂，半導(dǎo)體，合金高質量發展，光學(xué)和功能涂層以及...
    型號： TOF-qSIMS 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：北京市 對比
    等離子體-材料表面離子質(zhì)譜儀廠家供應(yīng)離子質(zhì)譜儀
    2021/12/29 18:13:24822
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